2021年4月份至5月份，丹麦奥尔堡大学的Francesco Iannuzzo教授应邀为华中科技大学和浙江大学电气学院学生讲授了为期1个月的高水平课程。本次课程围绕着硅基功率器件和宽禁带功率器件的可靠性提升与评价展开。这是Iannuzzo教授第三次为我校学生开课，也是首次与浙江大学组成联合课堂。受疫情影响，今年的课程仍在网上进行，实时听课人数创下接近300的峰值，吸引广泛关注。

课程一共分为以下五个主题。分别是：Recap on Silicon and WBG Power Components（硅和宽禁带器件的回顾），Gate Driving Methods for Enhancing Reliability of Power Converters（提高功率变换器可靠性的门极驱动方法），PSpice exercise session: Miller Plateau voltage and losses calculation（PSpice练习：米勒平台电压及损耗计算），Fault detection and protection methods for Silicon IGBTs and SiC MOSFETs（硅IGBTs和碳化硅MOSFETs的故障检测及保护方法），以及Power cycling operating principles and standards（功率循环操作原理和标准）。

课程每个主题之间联系紧密，围绕着“可靠性“这个关键词由浅及深为同学介绍了相关知识。同时，为了更好的帮助学生理解知识点，Iannuzzo教授带着学生一起使用仿真软件PSpice对一些现象进行仿真。此外，Iannuzzo教授还对本科同学的问题耐心回答；课后，对他们还没学习的知识提供资料补充。教授的尽职尽责的授课态度，以及理论结合实践的授课形式，得到了学生的一致认可与好评。

奥尔堡大学（Aalborg University）位于丹麦第四大城市奥尔堡，成立于1974年，是是一所综合性公立大学，常年位于欧洲大学排名前列，其电力电子相关专业常年在世界名列前茅。Francesco Lannuzzo是可靠性电力电子学的教授，也是可靠性电力电子（CORPR）中心的一员。Iannuzzo教授的研究领域主要是功率器件的可靠性，方向包括了基于实际工况的寿命估算、状态检测、故障建模以及极端条件下的MW级模块测试，并且已经发表了240多篇论文，以及三本书章节和四项专利。Iannuzzo教授目前是IEEE Transactions on Industry Applications、Journal of Emerging and Selected Topics in Power Electronics (JESTPE)、Open Journal of Power Electronics、EPE Journal以及Elsevier Microelectronics Reliability等多本顶级期刊的副主编，还担任IAS Power Electronic Devices and Components Committee副主席。此外，于2018年第一届电子可靠性欧洲会议上担任大会主席，并已经被任命为2023年ECCE欧洲会议的大会主席。